X熒光光譜鎢鐵元素分析儀

X熒光光譜鎢鐵元素分析儀用于現(xiàn)場，無損，快速，準(zhǔn)確分析檢測合金元素的識別。

合金材料鑒別（PMI）：
來料檢驗(yàn)；庫存材料管理；安裝材料復(fù)檢。
由于在石化建設(shè)，金屬冶煉，壓力容器，電力電站，石油化工，精細(xì)化工，制藥，航空航天等行業(yè)中，混料或使用不合格的材料會產(chǎn)生嚴(yán)重的安全事故。

經(jīng)濟(jì)實(shí)用的XRF檢測

Vanta Element手持式X射線熒光（XRF）分析儀可以對元素進(jìn)行分析，并可在一秒鐘短暫的時(shí)間內(nèi)對合金進(jìn)行辨別和分揀。

快速辨別牌號，以及在屏幕上顯示牌號比較信息，有助于加速完成廢料分揀和金屬制造過程中的檢測環(huán)節(jié)

類似于智能手機(jī)的用戶界面，易于學(xué)習(xí)，使用方便，不僅可降低培訓(xùn)操作人員的時(shí)間，而且還簡化了分揀過程360 度可視。

XRF分析儀的高級特性

Vanta Element分析儀具有連通性能，有助于簡化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程。

準(zhǔn)確且具有重復(fù)性的結(jié)果。

Vanta分析儀的電子部件。

Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計(jì)數(shù)率。

方便的數(shù)據(jù)管理

具有無線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中。

使用儀景通的科學(xué)云系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲，并可實(shí)時(shí)以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù)。

直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動(dòng)盤中。
用于存儲結(jié)果的1 GB工業(yè)用microSD卡。

堅(jiān)固耐用且經(jīng)濟(jì)實(shí)用

這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。

符合IP54評級標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵和防潮的特性

X熒光光譜鎢鐵元素分析儀通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞，從而減少了對分析儀進(jìn)行高成本維修的需求經(jīng)過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進(jìn)行檢測防磨不銹鋼面板堅(jiān)固，較厚的（50 µm）聚酰亞胺窗口可對分析儀起到保護(hù)作用無需使用工具即可方便更換的窗口。